【商品规格】：TX400

　　【商品简介】：

　　产品特点：

　　芯片检查显微镜是一种结构新颖，象质良好，物镜工作距离较长，使用方便的显微镜。显微镜载物台可作X、Y、Z向三个方向移动，有粗微调调焦、限程、制动及自动复位机构，并设有上下照明装置，以分别对透明或不透明的被测物进行观察读数。芯片检查显微镜还备有多种规格的硅片框和掩板框，尤其适用于电子工业制造集成电路检验掩模板和硅片上的图案，可与光刻机配套使用，同时在其他医学、印刷、工农业生产和科研部门也有广泛的用途。

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　　【备　　注】：

　　芯片检查显微镜TX400主要技术参数见下表：

　　项目

　　参数

　　目镜放大倍率

　　10X

　　目镜十字线分划格值

　　0.04mm

　　物镜放大倍率

　　5、10、20、40X

　　载物台幅面

　　150X150mm

　　载物台移动范围

　　X向±50mm; Y向 ±50mm; Z向 ±22mm

　　输入电压

　　220V

　　外形尺寸

　　长×宽×高 400×280×430mm

　　净重

　　14kg

　　注：用户有何特殊要求可协商。