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电工目CCC认证依据的标准2 |
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| 电工目CCC认证依据的标准2 |
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| 作者：佚名 文章来源：网络 点击数： 更新时间：2007-1-23 |
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GB/T 11279-1989 电子元器件环境试验使用导则
GB/T 11461-1989 频谱分析仪通用技术条件
GB/T 11462-1989 频谱分析仪测试方法
GB/T 11463-1989 电子测量仪器可靠性试验
GB/T 11464-1989 电子测量仪器术语
GB/T 11465-1989 电子测量仪器热分布图
GB/T 11482-1989 交流等离子体显示器件总规范 (可供认证用)
GB/T 11483-1989 交流等离子体显示器件测试方法
GB/T 11493-1989 半导体集成电路外壳空白详细规范
GB/T 11497.1-1989 半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HC 系列的品种
GB/T 11497.2-1989 半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/7 4HCT 系列的品种
GB/T 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范 (采用鉴定批准程序) (可供认证用)
GB/T 12084-1989 半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
GB/T 12114-1989 高频信号发生器通用技术条件
GB/T 12115-1989 高频信号发生器测试方法
GB/T 12300-1990 功率晶体管安全工作区测试方法
GB/T 12560-1990 半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
GB/T 12561-1990 发光二极管空白详细规范 (可供认证用)
GB/T 12562-1990 PIN 二极管空白详细规范 (可供认证用)
GB/T 12565-1990 半导体器件 光电子器件分规范 (可供认证用)
GB/T 12750-1991 半导体集成电路分规范 (不包括混合电路) (可供认证用)
GB/T 12793-1991 电连接器接触件嵌卸工具总规范
GB/T 12796-1991 永磁铁氧体磁体总规范 (可供认证用)
GB/T 12843-1991 半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理
GB/T 12844-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
GB/T 12845-1991 半导体集成电路非线性电路系列和品种 电压/ 频率和频率/ 电压转换器的品种
GB/T 12846-1991 脉冲闸流管总规范 (可供认证用)
GB/T 12856-1991 程序设计语言 BASIC 子集
GB/T 12992-1991 电子设备强迫风冷热特性测试方法
GB/T 12993-1991 电子设备热性能评定
GB/T 13537-1992 电子类家用电器用电动机通用技术条件
GB/T 13973-1992 半导体管特性图示仪通用技术条件
GB/T 13974-1992 半导体管特性图示仪测试方法
GB/T 14025-1992 半导体集成电路门阵列电路系列和品种 ECL系列的品种
GB/T 14026-1992 半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种
GB/T 14027.1-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列品种
GB/T 14027.2-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种
GB/T 14027.3-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种
GB/T 14027.4-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 双音多频电路系列品种
GB/T 14027.5-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种
GB/T 14027.6-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种
GB/T 14027.7-1992 半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种
GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14032-1992 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
GB/T 14116-1993 彩色液晶显示器件的光度和色度的测试方法
GB/T 14117-1993 彩色液晶显示器件空白详细规范 (可供认证用)
GB/T 14119-1993 半导体集成电路双极熔丝式可编程只读存储器空白详细规范(可供认证用)
GB/T 14860-1993 通信和电子设备用变压器和电感器总规范
GB/T 14862-1993 半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
GB/T 15151.1-1994 频率计数器通用技术条件
GB/T 15151.2-1994 频率计数器测试方法
GB/T 15167-1994 半导体激光光源总规范
GB/T 15183-1994 按能力批准评定质量的电子设备用电源变压器分规范
GB/T 15184-1994 按能力批准评定质量的电子设备用开关电源变压器分规范
GB/T 15272-1994 程序设计语言C
GB/T 15189-1994 DOS中文信息处理系统接口规范
GB/T 15287-1994 抑制射频干扰整件滤波器 第一部分: 总规范
GB/T 15288-1994 抑制射频干扰整件滤波器 第二部分: 分规范 试验方法的选择和一般要求
GB/T 15289-1994 数字存储示波器通用技术条件和测试方法
GB/T 15290-1994 电子设备用电源变压器和滤波扼流圈总技术条件
GB/T 15295-1994 电缆分配系统用混合集成电路高频宽带放大器系列和品种
GB/T 15297-1994 微电路模块机械和气候试验方法
GB/T 15637-1995 数字多用表校准仪通用技术条件
GB/T 15649-1995 半导体激光二极管空白详细规范
GB/T 15650-1995 半导体集成电路系列和品种 CMOS门阵列电路系列的品种
GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件
GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范
GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法
GB/T 15946-1995 可程控测量设备的标准数字接口
GB/T 16261-1996 印制板总规范
GB/T 16264.5-1996 信息技术 开放系统互连 目录 第5部分:协议规范
GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分：总则
GB/T 16511-1996 电气和电子测量设备随机文件
GB/T 16512-1996 抑制射频干扰固定电感器 第1部分 总规范
GB/T 16513-1996 抑制射频干扰固定电感器 第2部分 分规范 试验方法和一般要求的选择
GB/T 16720.1-1996 工业自动化系统 制造报文规范 第1部分：服务定义
GB/T 16720.2-1996 工业自动化系统 制造报文规范 第2部分：协议规范
GB/T 16720.3-1996 工业自动化系统 制造报文规范 第3部分：机器人伴同标准
GB/T 16720.4-1998 工业自动化系统 制造报文规范 第4部分: 数值控制用伴同标准
GB/T 17023-1997 半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 第二篇HCMOS数字集成电路、54/74HCU系列族规范
GB/T 17024-1997 半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 第三篇HCMOS数字集成电路54/74HCU系列空白详细规范
GB/T 17572-1998 半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路 第四篇 CMOS数字集成电路 4000B和4000UB系列族规范
GB/T 17573-1998 半导体器件 分立器件和集成电路 第1部分: 总则
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分: 数字集成电路
GB/T 17624.1-1998 电磁兼容 综述 电磁兼容基本术语和定义的应用与解释
GB/T 17626.10-1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验
GB/T 17626.1-1998 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论
GB/T 17626.12-1998 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验
GB/T 17626.2-1998 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验
GB/T 17626.3-1998 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
GB/T 17626.4-1998 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验
GB/T 17626.6-1998 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度
GB/T 17626.7-1998 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则
GB/T 17626.8-1998 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验
GB/T 17626.9-1998 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验
GB/T 17645.31-1998 工业自动化系统与集成零件库 第31部分: 实现资源: 几何编程接口
GB/T 1772-1979 电子元器件失效率试验方法
GB/T 2036-1994 印制电路术语
GB/T 3431.2-1986 半导体集成电路文字符号 引出端功能符号
GB/T 3435-1987 半导体集成CMOS电路系列和品种 4000系列的品种
GB/T 3436-1996 半导体集成电路 运算放大器系列和品种
GB/T 3437-1982 半导体集成电路MOS存储器系列和品种
GB/T 3438-1982 半导体集成电路双极型存储器系列和品种
GB/T 3453-1994 数据通信基本型控制规程
GB/T 3482-1983 电子设备雷击试验方法
GB/T 3483-1983 电子设备雷击试验导则
GB/T 3664-1986 电容器非线性测量方法
调幅广播收音机测量方法
GB 2846-88
普及级小型录音机总技术条件
SJ 3258-89
盒式磁带录音机可靠性要求和试验方法
GB/T12165-1998
收录音机质量分等标准
SJ/T 9505-93
收录音机质量验收规则
SJ/T11179-1998
汽车收放机总技术条件
SJ/T 10369-93
汽车收放扩音机分类与基本参数 B65.PHBo)
SJ/T 10447-93
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SJ/T 10325-92
车用高保真调频广播调谐器最低性能要求
SJ/T 10422-1993
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SJ/T 10372-1993
音频组合设备质量分等标准
SJ/T 9566-95
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SJ/T 10406-93
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SJ/T 10406-93
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家庭影院用环绕声放大器通用规范
SJ/T11217-2000
卡拉 OK 处理器通用技术条件
调音台通用技术条件
GB/T15640-1995
盒式磁带录音机运带机构总技术条件
GB/T12841-91 b-A
磁带录音机运带机构可靠性要求和试验方法
GB/T12840-1996
普及级小型录音机运带机构总技术条件
SJ 3252-89
汽车用盒式磁带放音机运带机构总技术条件
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盒式磁带录音机运带机构技术要求及测量方法
GB 10197-88
V C D 视盘机通用规范
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电视广播接收机测量方法
GB 9372-88
电视广播接收机测量方法 第一部份：一般考虑 射频和视频电性能测量以及显示性能的测量
GB/T17309.1-1998
电视广播接收机测量方法 第二部份：伴音通道的电性能测量 一般测量方法和单声道测量方法
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电视广播接收机外观、结构和工艺评价方法
SJ/T10327-92
彩色电视广播接收机质量分等标准
SJ/T 9502-91
黑白电视接收机总技术条件
GB/T14859-1993
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黑白电视接收机贝叶斯方法
GB/T14127-93 |
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