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解开故障元件之谜(二)          【字体:
解开故障元件之谜(二)
SMT产品,半导体产品,回流焊,防静电产品—SMTVIP商城(smtvip.com)
作者:佚名    文章来源:网络    点击数:    更新时间:2007-1-25

   进一步分析显示,PWB里的导通孔没有镀镍或者镀金不完全,因而在导通孔里有铜露出来。扫描电子显微镜(SEM)和能量散光测定(EDS)分析仪显示,在一个镍层里有轮廓分明的尖峰状磷,我们知道磷会减少过量电镀。我们看到,在目标BGA焊球下面,阻焊剂从各个焊盘边缘流了出来,在根部 形成奇形焊球,各个焊盘有一侧没有完全焊上。
整个分析揭示出了三个问题。PWB在电镀上有一些错开。双面镀镍层,特别是顶层表面粗糙,似乎与故障的发生有关。PWB还存阻焊膜位置不正的问题。最后,元件处在高于再流焊的温度或时间不足。我们建议,应该和PWB制造商一起,解决电镀和阻焊膜问题,并且改进焊料的再流焊温度曲线(图5)。

设计鉴定
实验室的另一方面工作是设计鉴定。有个例子,客户要求为他们的印刷电路板(PCBA)做鉴定,希望确认电路板上九个BGA的焊接质量。实验室的工作就是测定BGA与组件之间的可焊性,包括焊球对PWB焊盘的润湿、润湿后焊球的形状、焊料的颗粒度和焊球中气泡的大小。

 

图5在分析过程中,从导通孔剖面图看到, 在许多地方铜上面镀金或者镀镍不完全。

为了便于分析,我们选择每个BGA角线上的焊球。使用X光对电路板上每一个BGA进行分析,通过选择组件板上的关键性标记确定切割位置,让分析师找到想要的焊球对角线。每个BGA都作了相应的标记,把BGA从电路板上取出,放到一个环氧树脂试样里。然后,每个BGA 都沿着标记,用精密的钻石刀切下来。BGA用X光进行第二次照射,确定切割刀口相对所选择的对角线的位置。然后,使用研磨轮,打磨成中心直径大约0.35毫米的焊球,而对角线的位置则使用一台金相显微镜来校验。分别给BGA焊球显微切片拍摄数字照片,并传送给客户。分析的最终结果是,焊料符合现行修订版IPC-A-610,这样,客户就能够按样机投入生产。
在下一个鉴定项目中,是测定BGA是否正确地焊接到PWB上,在剧烈震动和撞击的情况下,BGA是否还焊在电路板上。分析包括抗剪强度测试和可焊性评估。
用显微镜对六块板上六个BGA作初步的检查,没有发现任何外部缺陷或者异常。用一个测力计通过一个双向夹具来做推力测试,对这组BGA进行推力测试得到的结果是一致的——分别是33.6磅、32.8磅和34.2磅。
用光学显微镜观察BGA和PWB可以看到,在PWB焊盘上,焊球开裂几乎是平均分布的,PWB焊盘从绝缘层剥离,而焊球从BGA焊盘上裂开(图6)。

图6立体显微照片显示,经过剪切测试后PWB上的各种情况:有的焊球仍焊在板上,焊盘剥离,焊球从焊盘上脱落。


就可焊性评估而言,仍然焊在PWB上的BGA用研磨片取了出来。把它们放在慢速固化型环氧树脂里,并在分析中做了显微切片。把BGA沿着选定的水平线、垂直线和对角线做显微切片,并用金相显微镜检测。所有的显微切片都显示,焊球焊接结果良好,气泡可以接受,润湿良好。抗剪强度分析揭示,在剪切测试中BGA从PWB焊盘上断裂的分布均匀,从显微切片看到焊球的形状是预期的。除了没有超出规格范围的气泡之外,焊球没有缺陷,没有断裂或者异常。

贯彻RoHS后制造工艺的发展
在这项研究中,实验室检查了两种情况:一个是含铅工艺,另一个是无铅工艺。研究的目的是为了确定,能否在无铅工艺中检测出微量的铅。在第二种情况下,在进行无铅工艺之后再进行锡铅焊接工艺,让分析员寻找残存的微量银。
我们对十二块PWB进行了元素光谱测定分析,每一块PWB都有一个焊盘使用无铅焊料。用X射线荧光(XRF)光谱测定法,可以分析检测锡(Sn)、银(Ag)、铜(Cu)、镍(Ni)和铅(Pb)。每一个光谱的持续时间为10秒钟。同时还对这些PWB板做X射线能谱仪(EDS)分析。用电子显微镜(SEM)和 X射线能谱仪(EDS)分析无铅焊料的结果是: Cu含量1.82%、 Ag含量2.33%、Sn含量93.43%,EDS光谱中没有观察到铅的尖峰。用XRF检测未使用的焊料,结果是: Sn含量94.5%、Ag含量4.6%、Cu含量0.4%、Ni含量0% (表1)。
在工艺研究的第二部分中,我们对十二块PWB进行元素分析,每一块PWB都有一个焊盘使用锡铅焊料。用X射线荧光光谱测定法,分析了锡、银、铜、镍和铅元素。XRF光谱持续时间为10秒钟。结果显示铅的含量低于0.10%,符合RoHS 条例的规定,可以接受。用XRF测量法没有检测出含有银。结论是,在对流焊接工艺,通过调整加热曲线,可以在含铅和无铅工艺之间进行转换,铅的含量不会超过RoHS的规定,可以接受。

 


结论
随着电子产品制造业的复杂程度和精密程度不断提高,及时地分析故障成因并提供数据,以便作出决策或者验证设计设想,其重要性将日益提高。上述的每一个例子都涉及技术方面的专门知识、正规的分析过程和复杂的测试,都要编制和管理文件。有时客户要求进行的评估存在时效问题,测试一完成,就可以得到结果。不论是什么情形,产品分析都可以帮助工程人员取得他们需要的数据,及时作出适当的决定,采取正确的措施或者作出改进,以便进行下一阶段的产品开发。

* EPIC Technologies’ Johnson City TN 故障分析/产品分析实验室。
** Hewlett Packard 5DX Series II X-ray。

 

文章录入:SMT2006    责任编辑:smt2006 
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